Présentations des Exposants

Retrouvez sur cette page et téléchargez les présentations données par les Exposants lors des deux sessions du mercredi et du jeudi entre 13h30 et 14h.

 

Journée du Mercredi

Amphi Principal

  • 13h30-13h45 Guillaume BRUNETTI, JEOL
    Nouveaux développements JEOL dans le domaine de la microscopie électronique
  • 13h45-14h00 Daniel NONVILLE, GATAN
    Avancées récentes avec les caméras à détection directe
  • 14h00-14h15 Jérôme MIAILHE, ZEISS
    Nouveautés de la gamme de Microscope électronique ZEISS

Amphi D

  • 13h30-13h45 Ana BUI, CAMECA
    Analyses quantitatives avec la microsonde électronique CAMECA

Amphi E

  • 13h30-13h45 Santiago SEVILLANO, LEICA
    Advanced Cryo Preparation Techniques

 

Journée du Jeudi

Amphi Principal

  • 13h30-13h45 Stavros NICOLOPOULOS, ELOISE
    Novel TEM characterization technique : orientation imaging using precession electron diffraction and in situ e PDF local order analysis at pico scale
  • 13h45-14h00 Benoit MAXIT, CORDOUAN Technologies
    Nouveaux MET de paillasse basse-tension

Amphi D

  • 13h45-14h00 Benjamin MAFFE, VIB &TECH
    Comment protéger un microscope de son environnement (vibrations, champs magnétiques, acoustique, température…)
  • 14h00-14h15 Philippe LASSON, SYNERGIE4
    Nouveautés chez Brucker et Synergie4 :4 techniques analytiques intégrées pour la microscopie électronique et dernières avancées en microtomographie par rayons X

Amphi E

  • 13h30-13h45 Frédéric GILLERON/Chris CHEN, LFG
    K-kit Meets all Needs for Liquid TEM
  • 13h45-14h00 Andreas MAKAT, EDEN Instrument
    How to Get High Quality- and High Speed Data Collection for EDS/EBSD spectroscopy
  • 14h00-14h15 Benoit GENNARO, ELEXIENCE
    Observations et analyses : les solutions dernière génération