Instrumentation, méthodes et interdisciplinarité

06 Juil 2017
16:15 - 18:00

Instrumentation, méthodes et interdisciplinarité

Modérateurs : Florent HOUDELLIER (Toulouse) / François VURPILLOT (Rouen)

Mots clés : méthodologies, couplage, microscopie corrélative, in-operando, in-situ

Résumé Français

Ce symposium est ouvert aux contributions récentes en instrumentation ou méthodes en microscopie. L’accent sera mis sur la corrélation et le couplage de techniques d’observation qui apportent des informations nouvelles à la fois structurale, temporelles et physiques sur l’objet d’intérêt. La possibilité de coupler des microscopes ou instruments de nano-analyse dont les capacités ont progressées ces dernières années de façon spectaculaire tant du point de vue instrumental (STEM EELS/HAADF/EDX, APT, SEM…) que du point de vue de l’extraction de donnée avec des mesures de propriétés physiques in-situ ouvre de nouvelles voies dans la compréhension des relations nanostructure-fonction.

Résumé Anglais

The symposium is open to recent contributions in instrumentation and methods in microscopy. The focus will be given on the correlation and coupling observation techniques that bring new structural information, temporal information and physical information on the objects of interest. The ability to couple microscopes or instruments of nano-analysis whose capacities have progressed dramatically in recent years (from instrumental point of view such as STEM EELS / HAADF / EDX, APT, SEM … or using high end data mining methodologies) with in-situ measurements of physical properties unlocks the fundamental understanding of the relationships existing between nanostructure and function.

Programme Détaillé

16h15-18h00 Session Instrumentation, méthodes et interdisciplinarité

Modérateurs : Florent HOUDELLIER (Toulouse), François VURPILLOT (Rouen)

16h15-16h45    Guillaume SCHULL, Université de Strasbourg, CNRS, IPCMS (invité) STM-induced light emission: from molecular LED to subnanometric optical microscopy

16h45-17h15    Luiz H. G. Tizei, LPS – Orsay (invité) Instrumentation for optics at the nanoscale

17h15-17h30    Meuret Sophie, AMOLF,Amsterdam ( talk oral) Three ways of measuring lifetime in a scanning electron microscope : advantages and drawbacks of each techniques

17h30-17h45    Béché Armand, University of Antwerp ( talk oral) Compressed Sensing In (S)TEM: Imaging Materials With Reduced Electron Dose

17h45-18h00    CARUSO Giuseppe Mario, CEMES – CNRS Toulouse (talk oral) Design and realization of an ultrafast cold field emission source operating under high voltage