Sophie CAZOTTES

MATEriaux : Ingénierie et Science (LYON)

Sophie CAZOTTES

MATEriaux : Ingénierie et Science (LYON)

Résumé

Applications du mode TKD pour la caractérisation de microstructures fines dans les aciers

S.Cazottes, T.Douillard, C. Langlois

L’amélioration des propriétés des alliages mécaniques passe aujourd’hui bien souvent par une réduction des tailles de microstructure. La technique EBSD ( Electron Back Scattered Diffraction) est une technique de cartographie d’orientation cristallographique qui permet d’obtenir un nombre important de caractéristiques microstructurales comme la nature des phases présentes, leur morphologies, répartition, et également leur état de déformation. Cependant, une des limitations de l’EBSD concerne la résolution spatiale que l’on peut obtenir, et qui est directement liée à la taille de la poire d’interaction. Afin de palier à ce problème, une solution consiste à travailler sur des lames MET, et à utiliser le signal transmis (STEM in SEM) pour cartographier les orientations. Cette technique émergente, parfois appelée Transmission Kikuchi Diffraction, (Trimby, 2012; Trimby et al., 2014, Brodusch et al., 2013; Geiss et al., 2013; Rice et al., 2014), permet de réaliser des cartes d’orientations avec des pas de quelques nanomètres.

Nous présenterons, à travers plusieurs cas d’études réalisés sur des aciers, les intérêts et limites de cette technique de caractérisation. Plus précisément, la caractérisation de distributions de tailles de grains nanométriques, et les transformations de phases dans des aciers martensitiques seront présentées.

 

Brodusch, N., Demers, H., Gauvin, R., 2013. Nanometres-resolution Kikuchi patterns from materials science specimens with transmission electron forward scatter diffraction in the scanning electron microscope: NANOMETRE-RESOLUTION WITH t-EFSD IN THE SEM. J. Microsc. 250, 1–14. doi:10.1111/jmi.12007

Geiss, R.H., Rice, K.P., Keller, R.R., 2013. Transmission EBSD in the Scanning Electron Microscope. Microsc. Today 21, 16–20. doi:10.1017/S1551929513000503

Rice, K.P., Keller, R.R., Stoykovich, M.P., 2014. Specimen-thickness effects on transmission Kikuchi patterns in the scanning electron microscope: SPECIMEN-THICKNESS EFFECTS ON TRANSMISSION KIKUCHI PATTERNS IN SEM. J. Microsc. 254, 129–136. doi:10.1111/jmi.12124

Trimby, P.W., 2012. Orientation mapping of nanostructured materials using transmission Kikuchi diffraction in the scanning electron microscope. Ultramicroscopy 120, 16–24. doi:10.1016/j.ultramic.2012.06.004

Trimby, P.W., Cao, Y., Chen, Z., Han, S., Hemker, K.J., Lian, J., Liao, X., Rottmann, P., Samudrala, S., Sun, J., Wang, J.T., Wheeler, J., Cairney, J.M., 2014. Characterizing deformed ultrafine-grained and nanocrystalline materials using transmission Kikuchi diffraction in a scanning electron microscope. Acta Mater. 62, 69–80. doi:10.1016/j.actamat.2013.09.026

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